每日經(jīng)濟新聞 2026-03-18 20:34:33
每經(jīng)AI快訊，3月18日，佰維存儲在互動平臺表示，公司在NAND Flash及DRAM存儲芯片領域的ATE測試、Burn-in（老化）測試、SLT（系統(tǒng)級）測試等多個環(huán)節(jié)，擁有從測試設備硬件開發(fā)、測試算法開發(fā)以及測試自動化軟件平臺開發(fā)的全棧測試開發(fā)能力。公司自主研發(fā)的測試設備已對內(nèi)賦能公司自有產(chǎn)線的測試環(huán)節(jié)，并積極對外開拓市場。
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